東莞奧普(pu)新降(jiang)噪(zao)(zao)耳(er)機測試(shi)方(fang)案(an) 方(fang)案(an)綜述：對(dui)(dui)于降(jiang)噪(zao)(zao)耳(er)機研發測試(shi)，我們仍推(tui)薦使用AD2522音(yin)頻分(fen)析儀。AD2522搭配人(ren)工嘴、AMP50測試(shi)功放、人(ren)工耳(er)、濾波(bo)器（選）等(deng)可(ke)對(dui)(dui)降(jiang)噪(zao)(zao)耳(er)機進行(xing)測試(shi)。
耳機生產商非常有(you)必要對來料(liao)進行(xing)(xing)管(guan)控，單(dan)體喇叭，單(dan)體mic，前腔不進行(xing)(xing)前腔管(guan)控會(hui)有(you)較大損(sun)失，不良品(pin)率增加，無法確定(ding)哪些材(cai)料(liao)NG，可再利用的(de)材(cai)料(liao)不易回收等(deng)。無論是(shi)對FF ANC還是(shi)FB ANC 亦或是(shi)混合ANC，都存在對相位的(de)補償。而相位的(de)誤差會(hui)直(zhi)接影響降噪效果。基于此(ci)原因，眾芯片廠商推薦用AP系列的(de)儀(yi)器(qi)進行(xing)(xing)研(yan)發(fa)測試(shi)。《奧普新ANC降噪耳機測試(shi)系統之來料(liao)管(guan)控》
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