耳機綜合測試儀

更新時間： 2016-11-23
產品型號： AP
簡單描述
耳機綜合測試儀通過不斷創新，我們開發了行業*應用范圍Z廣的多聲道音頻分析儀，世界上*的HDMI音頻分析儀，*的24位1兆赫的FFT，Z低的THD+N，Z平坦的響應作為工程師，我們了解數據可信度對您的重要性！使用AP生產的設備就意味著結果直接可信。如何對待這些結果由您而定，但AP愿意隨時為您提供幫助。

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詳(xiang)細介紹

耳機綜合測試儀特點：

品名：耳機綜合測試儀

主要特點:

· 典型的THD+N -106 dB以及24位(wei)、1百萬(wan)點的FFT (選件(jian))
· 不(bu)需(xu)要任(ren)何編程，在3秒內進行(xing)全面測試
· 直觀的用(yong)戶接口(kou)，一(yi)鍵(jian)點擊測量
· 支持VB.NET,C#.NET,全面地(di)LabVIEW驅動(dong)
· 用腳踏開關或條碼掃描器(qi)控制APx
· 在任何(he)一臺(tai)APx儀器上(shang)分享(xiang)工程(cheng)文件以(yi)及采集(ji)的.wav文件
· 用(yong)MS word 或APx的(de)用(yong)戶接口(kou)創建自定義的(de)測試報(bao)告
· 高(gao)級的測量庫包括IMD, MOL, 動態范圍, FFT或更多(duo) (選件)

型(xing)號和選(xuan)(xuan)件(jian)：APx515只有(you)一個型(xing)號，但有(you)軟件(jian)選(xuan)(xuan)件(jian)擴展測量能力

APx515 2通道(dao)輸入(ru)/出 192k采樣數字(zi) I/O接口音(yin)頻分(fen)析儀(yi)
SW-HST 增加高(gao)速測(ce)量的多音(Multi-tone) 和連續掃描 (Continuous Sweep) 測(ce)量
SW-AML 增加(jia)IMD、MOL、動(dong)態范圍、FFT以(yi)及(ji)其他高級測量工(gong)具庫
SW-ACR 增加(jia)聲學響應測(ce)量
SW-ALL HST+AML+ACR

測量參數：

APX515測(ce)量功能

音頻(pin)測量：	聲學(xue)測量(liang)：
1、輸(shu)出(chu)電壓	1、頻響(xiang)曲線（靈敏度(du)）SPL
2、功放增益	2、失真(zhen)
3、輸出(chu)功率	3、極(ji)性(xing)
4、總諧波失真	4、聲學(xue)相位
5、頻率(lv)響應	5、異(yi)音Rub & Buzz 檢測(ce)
6、分離度/串(chuan)擾	6、T/S參數
7、信噪(zao)比(bi)	7、阻(zu)抗曲線(xian)及(ji)音圈直流電阻(zu)
8、底(di)噪(zao)	8、空(kong)氣泄(xie)露(lu)檢測
9、相(xiang)位	9、瀑(pu)布和極化(hua)圖
10、互調失(shi)真	10多次(ci)諧波
11、動態(tai)范(fan)圍
12、共模抑制比
13、直流偏移

系統性能指標
殘余(yu)THD+N	典型(xing)值(zhi)＜-105dB(1k Hz，1V)
信(xin)號(hao)發生器
頻(pin)率范圍(wei)	0.1Hz ~ 80K Hz
頻率精度	3 ppm
zui大幅度	平(ping)(ping)衡(heng)16Vrms，非平(ping)(ping)衡(heng)7.5Vrms
幅度(du)精度(du)	±0.05dB
平坦(tan)度（20Hz~20KHz）	±0.01dB
通(tong)道	平(ping)衡(heng)×2，非平(ping)衡(heng)×2，共模；數字平(ping)衡(heng)×1，非平(ping)衡(heng)×1，光(guang)纖×1
輸出阻(zu)抗	平(ping)衡(heng) 100Ω/600Ω，非平(ping)衡(heng)50Ω/600Ω
信(xin)號分析儀
zui大輸入	130Vpp
zui大帶寬	＞90KHz
幅度精度	±0.05dB(1kHz)
平坦(tan)度（20Hz~20KHz）	±0.01dB
殘(can)余輸入噪聲（20k Hz BW）	1.4uV
單次諧波分(fen)析	2次(ci)~10次(ci)
zui大(da)FFT長度	1024k
互調失真(zhen)支持	SMPTE,MOD,DFD
通(tong)道(dao)	模(mo)擬(ni)平衡×2，非(fei)平衡×2；數字平衡×1，非(fei)平衡×1，光纖×1
輸入阻抗	平衡 600Ω/200kΩ，非(fei)平衡600Ω/100kΩ