為減少誤(wu)差,應在(zai)基體(ti)上取零(ling)位作(zuo)基準。建議用未(wei)噴(pen)涂的(de)同一種工件表面調(diao)零(ling),因(yin)為材料(liao)之間磁性和導(dao)電性不(bu)同,會(hui)造(zao)成(cheng)一定誤(wu)差。若沒有未(wei)噴(pen)涂的(de)工件可以用附(fu)送的(de)調(diao)零(ling)板調(diao)零(ling)。
用儀器測量基體,如顯(xian)示(shi)(shi)是0.0,表明已經是零位,不(bu)需要(yao)調(diao)零。如不(bu)顯(xian)示(shi)(shi)0.0,則需要(yao)調(diao)零。將儀器探頭壓在(zai)調(diao)零板或未噴涂的工件表面上,不(bu)要(yao)抬起,按一下儀器上的紅色按鍵松開,聽到響(xiang)聲液(ye)晶顯(xian)示(shi)(shi)一組數后,拿開儀器,再次聽到響(xiang)聲后,液(ye)晶顯(xian)示(shi)(shi)0.0,調(diao)零完畢。
零位(wei)穩定:所有(you)數字式涂(tu)層測(ce)厚(hou)(hou)儀測(ce)量(liang)前都要求校(xiao)(xiao)準零位(wei),可以在隨儀器(qi)的校(xiao)(xiao)零板或未涂(tu)覆的工件上(shang)校(xiao)(xiao)零。儀器(qi)零位(wei)的穩定是保證(zheng)測(ce)量(liang)準確(que)的前提。一臺好的測(ce)厚(hou)(hou)儀校(xiao)(xiao)零后(hou),可以長時(shi)間保持(chi)零位(wei)不漂(piao)移,確(que)保準確(que)測(ce)量(liang)。
無需(xu)校(xiao)準:多(duo)數測厚儀除(chu)了(le)校(xiao)零外,還需(xu)要用(yong)標(biao)準片(pian)進(jin)行調(diao)校(xiao)。測量某(mou)一(yi)范(fan)圍(wei)厚度,要用(yong)某(mou)一(yi)范(fan)圍(wei)的(de)標(biao)準片(pian)調(diao)校(xiao)。主要是(shi)不能滿足全范(fan)圍(wei)內的(de)線(xian)性精(jing)度。不僅操(cao)作煩瑣,而且也會因標(biao)準片(pian)表面粗糙(cao)失效,增大系統誤差。
溫(wen)(wen)度補償(chang):涂覆層厚度的(de)測(ce)量(liang)受溫(wen)(wen)度影響非常大。同(tong)一(yi)工件(jian)在不同(tong)溫(wen)(wen)度下(xia)測(ce)量(liang)會得出(chu)很大的(de)誤差。所以好的(de)測(ce)厚儀應該具備理想的(de)溫(wen)(wen)度補償(chang)技術,以保證不同(tong)溫(wen)(wen)度下(xia)的(de)測(ce)量(liang)精度。
紅寶石(shi)探頭:探頭接觸(chu)點的耐磨性直接影響測量的精度。普通(tong)金(jin)屬接觸(chu)探頭,其(qi)表面(mian)磨損后會帶來很大(da)的誤差(cha)。
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