奧(ao)普新(xin)AD2722音(yin)頻(pin)分析儀

奧普新音頻分析儀AD2722高精度電聲測試儀

AD2722 是迄今(jin)為止業(ye)界(jie)gao性能和(he)多功能的音頻分(fen)析儀。

AD2722在(zai)指標(biao)參(can)數上的表現(xian)極為嚴苛。產(chan)品將出色的高效性能(neng)，多功能(neng)數字(zi)I/O接口與快(kuai)速直觀(guan)的測量軟件*結(jie)合于一體。

AD2722因-120dB的典型THD+N或失真和高(gao)達(da)1MHz帶寬而好于于其他所(suo)有音頻分(fen)析儀(yi)，甚至(zhi)比(bi)業(ye)界標淮SYS-2722的失真還低了5dB。同時FFT頻譜儀(yi)采樣長度(du)也達(da)到了 1.2M點。

技(ji)術優勢

1. 信(xin)(xin)號(hao)(hao)源：5Hz--204kHz(模擬）0.1Hz-80kHz（DAC),可以(yi)播放(fang).wav格式的信(xin)(xin)號(hao)(hao)

2. 模擬頻寬：單通道可(ke)達到(dao)1000KHz，雙通道同時達到(dao)500KHz

3. 信(xin)號源失(shi)真：THD+N :-120dB（20Hz--20KHz）

4. FFT長度：1.2M，可同時觀察(cha)FFT和(he)示波器及(ji)測試數據

5. 模擬(ni)底噪：1Uv

奧普新音頻分析儀AD2722高精度電聲測試儀

AD2722是AD2000系列音頻(pin)(pin)分析儀中性能(neng)gao的多(duo)功能(neng)測試儀器(qi)，可滿足各類(lei)音頻(pin)(pin)產品(pin)的研發(fa)使(shi)用(yong)。zui大輸入(ru)電(dian)壓達230Vpk，帶寬>1MHz，總諧波(bo)失真加噪(zao)聲小于-117dB+10μV。

AD2722為(wei)用戶(hu)提供了(le)較多的(de)(de)(de)通(tong)道(dao)選(xuan)擇，擁有模(mo)(mo)擬四輸(shu)入雙(shuang)輸(shu)出的(de)(de)(de)平(ping)衡(heng)(heng)/非(fei)平(ping)衡(heng)(heng)通(tong)道(dao)，數(shu)字單輸(shu)入輸(shu)出的(de)(de)(de)平(ping)衡(heng)(heng)/非(fei)平(ping)衡(heng)(heng)/光纖通(tong)道(dao)。選(xuan)配藍牙、DSIO、HDMI、PDM等(deng)模(mo)(mo)塊(kuai)。

AD2722也配備了(le)具有(you)8端口的AUX CONTROL IN接口和AUX CONTROL OUT接口，可以實現對外部(bu)設備的控制，如(ru)轉(zhuan)盤、電源、指示器、燈(deng)、報警(jing)器等(deng)。

AD2722:

主要特點

·超高性能：

1.信號(hao)源：5Hz--204kHz(模擬(ni)）0.1Hz-80kHz（DAC),可以(yi)播放.wav  ; 格(ge)式的信號(hao)。

2.模擬(ni)頻(pin)寬：單通(tong)道(dao)可(ke)以達到(dao)1000KHz，雙通(tong)道(dao)同時達到(dao)500KHz。

3.信號(hao)源(yuan)失真：THD+N   :-120dB （20Hz--20KHz）

4. FFT長度：1.2M，可以同時觀看FFT和示波器(qi)及測(ce)試數據(ju)。

5.模擬底噪：1Uv

·自(zi)動(dong)模式：不(bu)用編寫代碼便可設(she)定自(zi)動(dong)測(ce)量程序，適合于(yu)自(zi)動(dong)化測(ce)試場合

·標配(pei)ASIO功能。可(ke)連接(jie)直(zhi)接(jie)測量高質量和專(zhuan)業的PC音頻接(jie)口

AD2722在指標參數上的(de)表現苛刻。它(ta)把(ba)傳統的(de)高性能(neng)，多功能(neng)的(de)數字I/O接口與快速(su)，直(zhi)觀(guan)的(de)測量軟件(jian)*結合在一起(qi)了。

AD2722因 -120 dB 的典型剩余失真(zhen)和高(gao)達(da)(da)1 MHz 帶寬而好(hao)于于其他所有(you)音頻分析(xi)儀，甚至比(bi)業界(jie)標淮SYS-2722 的失真(zhen)還低(di)了(le)5dB 。同時(shi)FFT頻譜儀采樣長度(du)也(ye)達(da)(da)到了(le) 1.2M點。

可測試(shi)參數：